メモ

AFM (Atomic Force Microscope) のこと。探針にレーザー光を当てて、探針と対象物との原子間力により探針の変位が一定になるように探針の位置制御信号を記録して対象物の形を知る顕微鏡。

1985年IBMのチューリッヒ研究所で開発された走査型プローブ顕微鏡（Scanning Probe Microscope）の一種。走査型トンネル顕微鏡であるSTMは1981年に同研究所で開発された。

DNAの影像はローレンスリバモアで1989年に撮影される。