シミュレーションの方法

　六方晶では格子定数と回折面のミラー指数(hkl)より，面間隔dhklは

として求めることができる．これよりX線回折測定を行った際の２θは

として求めることができる．

　またX線の回折強度は構造因子Fhklの２乗に比例し，構造因子Fhklは

fn: n番目の原子の散乱因子　(xn, yn, zn): n番目の原子の部分座標

として，求めることができる．

　本研究では，すべての回折面についての面間隔および構造因子の

計算を行うことにより，X線回折プロファイルのシミュレーションを行った．